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白光干涉儀，作為一種高精度的光學(xué)測(cè)量儀器，廣泛應(yīng)用于科研、工業(yè)生產(chǎn)和質(zhì)量檢測(cè)等多個(gè)領(lǐng)域。它基于光學(xué)干涉原理，能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)物體表面微觀形貌的精確測(cè)量，具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全和測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)。白光干涉儀的結(jié)構(gòu)主要包括照明光源系統(tǒng)、光學(xué)成像系統(tǒng)、垂直掃描控制系統(tǒng)、數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)和應(yīng)用軟件。照明光源系統(tǒng)通常采用高亮度LED光源，提供穩(wěn)定、均勻的光源。光學(xué)成像系統(tǒng)則負(fù)責(zé)接收從樣品和參考鏡反射回來的光線，并形成清晰的圖像或干涉條紋。垂直掃描控制系統(tǒng)能夠精密驅(qū)動(dòng)顯微物鏡上下...

分析任一顆粒顆粒度分析中經(jīng)常需要就顆粒數(shù)目、尺寸及粒徑分布等對(duì)樣品數(shù)字圖像進(jìn)行分析。在不同行業(yè)中，這些顆?？赡苁墙饘傥驳V或是其它污染物，如液體中的微晶或氣孔或機(jī)器零件中的瑕疵或氣泡。這方面的分析需要具備精確測(cè)量、高分辨率、電動(dòng)載物臺(tái)和圖像拼接，以及圖像分析軟件。殘留污垢顆粒度分析的一個(gè)重要應(yīng)用便是殘余污垢的測(cè)定。許多行業(yè)都要求依據(jù)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)定，控制并記錄產(chǎn)品的清潔度。一個(gè)已加工好的零部件可能布滿灰塵，或殘留有各種污物。隨機(jī)抽選配件，用定量液體沖洗，然后通過濾膜加壓，所有灰塵...

增強(qiáng)型光學(xué)測(cè)量技術(shù)雖然一開始作為高性能3D光學(xué)輪廓儀設(shè)計(jì)，但是我們的某些系統(tǒng)勝過所*現(xiàn)有的光學(xué)輪廓儀，集所有技術(shù)于一身。條紋投影AI多焦面疊加共聚焦干涉光譜反射條紋投影非常適合大面積測(cè)量，垂直精度和可重復(fù)性高，系統(tǒng)噪聲低。了解更多產(chǎn)品陣容技術(shù)組合我們的系統(tǒng)采用不同光學(xué)測(cè)量技術(shù)進(jìn)行工作，一部分系統(tǒng)采用組合技術(shù)。聚集這些技術(shù)的優(yōu)點(diǎn)，外加*新技*和操作軟件，成就市場(chǎng)上*具競(jìng)爭(zhēng)力的高級(jí)測(cè)量設(shè)備。為何使用四合一技術(shù)？采用Sensofar的四合一法–正如Sneox系統(tǒng)那樣–在軟件中單擊一...

我們熟知各類規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)許多金相學(xué)分析方法都是在特定的規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)下執(zhí)行的，如對(duì)鋼中非金屬夾雜物（NMI）的測(cè)定或者晶粒度分析等。為依據(jù)國際標(biāo)準(zhǔn)來測(cè)定這些參數(shù)，您需要一臺(tái)金相顯微鏡或是配有專業(yè)軟件模塊的顯微鏡系統(tǒng)。鋼中非金屬夾雜物（NMI）含量是一個(gè)影響鋼鐵強(qiáng)度和韌性的重要因素，對(duì)其標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)定需要在配有專業(yè)軟件模塊的顯微鏡系統(tǒng)下進(jìn)行。如果您在鋼鐵工業(yè)工作或是生產(chǎn)鋼鐵產(chǎn)品（如汽車業(yè)或機(jī)械制造業(yè)），則需要一套能夠依照現(xiàn)行國際標(biāo)準(zhǔn)自動(dòng)重復(fù)分析NMI含量的顯微系統(tǒng)?？刂凭Я４笮【Я６确治?..

西班牙SensofarSneox三維共聚焦白光干涉儀用于汽車發(fā)動(dòng)機(jī)缸套的紋理幾何形狀評(píng)估激光加工可通過應(yīng)用紋理來開發(fā)工程表面，可以產(chǎn)生增強(qiáng)的功能性能，如表面摩擦、觸感行為、潤濕性能等。使用皮秒和飛秒級(jí)的超短脈沖進(jìn)行激光加工，可加工出具有高度精確的微觀幾何形狀、邊緣和表面的表面紋理。五軸激光加工能夠?qū)哂袕?fù)雜輪廓的三維組件進(jìn)行無縫紋理處理。測(cè)量數(shù)據(jù)SensofarSneox3D光學(xué)輪廓儀已成為MTC表面紋理不可或*的一部分，發(fā)揮了重要作用。與汽車公司合作的實(shí)驗(yàn)研究中，MTC開發(fā)...

背景條紋投影原理將結(jié)構(gòu)光以一定角度投射到樣本上，用相機(jī)接收反射光。投射到某個(gè)表面上時(shí)，投射光型改變，因此，通過確定條紋圖形與高度變化之間的相互關(guān)系，我們就可獲得3D圖像。光學(xué)方案為了在現(xiàn)場(chǎng)樣本上獲得均勻、聚焦且等距的條紋投影，Scheimpflug配置與雙遠(yuǎn)心鏡頭一起使用。不管物體在視場(chǎng)中的距離或位置如何，均有恒定的放大倍率，是測(cè)量用途的理想之選。主要特征正確單拍采集垂直精度高的大區(qū)域而且可重復(fù)性高(σ=0.01µm)，系統(tǒng)噪聲低至0.5µm實(shí)像顏色沒...

主動(dòng)照明多焦面疊加是一種為了測(cè)量粗糙的表面形狀而開發(fā)的光學(xué)技術(shù)。這項(xiàng)技術(shù)基于Sensofar在共聚焦和干涉3D測(cè)量領(lǐng)域的廣泛專業(yè)知識(shí)，專門設(shè)計(jì)用于補(bǔ)充低放大率下的測(cè)量。BACKGROUND多焦面疊加原理主動(dòng)照明多焦面疊加技術(shù)利用了明場(chǎng)中存在景深的特點(diǎn)，樣品只有在的特定z范圍中對(duì)焦。景深會(huì)根據(jù)物鏡的數(shù)值孔徑或光源波長而變化。Z高度的值是根據(jù)圖像的高對(duì)比度（清晰度或微小細(xì)節(jié)）來計(jì)算的，從而得出正確的對(duì)焦位置。光學(xué)技術(shù)我們的光學(xué)技術(shù)是通過專*的microdisplay來實(shí)現(xiàn)，光線會(huì)...

Sensofar共聚焦白光干涉儀|共聚焦技術(shù)共聚焦技術(shù)能夠測(cè)量表面高度，將常規(guī)圖像轉(zhuǎn)換成光學(xué)剖面，其中，物鏡焦深范圍內(nèi)的那些區(qū)域的信號(hào)被保留，改善了圖像對(duì)比度、橫向分辨率和系統(tǒng)噪聲。光學(xué)方案對(duì)于3D成像，必須從相機(jī)的所有像素獲取數(shù)據(jù)。這意味著：重新構(gòu)建共聚焦圖像。為此，多狹縫圖像偏移一個(gè)像素，達(dá)到必要的次數(shù)，以填充相機(jī)。多狹縫每偏移一次，拍一張相機(jī)圖像，對(duì)那一刻照亮的像素應(yīng)用共聚焦算法。SENSOFAR專*技術(shù)光學(xué)結(jié)構(gòu)中沒有運(yùn)動(dòng)零件Sensofar系統(tǒng)中實(shí)施的共聚焦掃描技術(shù)是...