BEUKER三維光學輪廓儀教學科研入門級工具

產品簡介

BEUKER三維光學輪廓儀教學科研入門級工具
在高校基礎科研實驗室與職業(yè)教育機構，布魯克 ContourX-100 三維光學輪廓儀以高性價比與易操作性，成為微觀測量教學與入門級科研的理想選擇。

產品型號：ContourX-100

更新時間：2025-08-26

廠商性質：代理商

訪問量：31

產品咨詢 17701039158

產品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

三維光學輪廓儀

BEUKER白光干涉光學輪廓儀 Sensofar 儀光新型共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR 3D光學輪廓儀 SENSOFAR共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR結構光三維輪廓儀 SENSOFAR平面度測量干涉儀 ZYGO三維光學輪廓儀布魯克三維光學輪廓儀

查看全部產品

金屬的結構特性

澤攸科技ZEM系列臺式掃描電鏡：賦能國產*端制造的“微觀之眼

Sensofar 三維共焦干涉顯微鏡用于半導體檢測

鹽沉積對浮動 PV 性能的影響

詳細介紹在線留言

BEUKER三維光學輪廓儀教學科研入門級工具

在高?；A科研實驗室與職業(yè)教育機構，布魯克 ContourX-100 三維光學輪廓儀以高性價比與易操作性，成為微觀測量教學與入門級科研的理想選擇。

產品細節(jié)

ContourX-100 設計極簡，機身尺寸 450mm×350mm×400mm，重量 8kg，可輕松搬運至不同教室。操作界面為基礎按鍵式，無復雜菜單，搭配圖文操作手冊，學生能自主學習操作。樣品臺為開放式設計，無遮擋結構，便于觀察樣品與鏡頭的相對位置，理解測量原理；臺面帶坐標刻度，幫助掌握樣品定位方法。設備光學系統(tǒng)為固定焦距設計，無需頻繁對焦調試；光源為 LED 冷光源，壽命長且不發(fā)熱，不會影響樣品溫度。機身側面有透明觀察窗，可直觀看到內部光學部件工作狀態(tài)，便于講解設備結構。

產品性能

ContourX-100 采用白光干涉技術，可測量表面粗糙度 Ra 值 0.05-20μm 的樣品，如金屬薄片、玻璃載玻片。測量數據重復性較好，不同學生測量同一樣品的結果差異小，適合對比實驗。測量速度適中，單次小區(qū)域（300μm×300μm）掃描約 3-5 分鐘，能讓學生充分觀察測量過程。配套教學版軟件，包含數據采集、基礎分析功能，可導出數據至 Excel，滿足教學報告撰寫需求。

用材講究

外殼采用高強度 ABS 塑料，能承受學生操作中的輕微碰撞。光學鏡頭選用普通光學玻璃，滿足基礎測量需求，損壞后更換方便。樣品臺臺面為耐磨酚醛樹脂板，長期使用不易刮花。內部電路模塊化設計，某一部件故障可單獨更換，降低維修成本。

參數詳情

參數項	具體數值
橫向分辨率	最高可達 1μm
縱向分辨率	低至 5nm
縱向測量范圍	5nm-3mm
樣品臺尺寸	80mm×80mm
樣品臺調節(jié)方式	手動旋鈕（X/Y 軸）
光源類型	LED 冷光源（壽命＞10000 小時）
數據接口	USB 2.0
設備重量	8kg
工作溫度	18-30℃
相對濕度	25%-65%（無冷凝）

廣泛用途

在高校材料科學基礎實驗中，用于 “材料表面粗糙度測量" 實驗，理解加工工藝對表面的影響；在職業(yè)教育機電實訓中，檢測機械零件的表面質量，理解公差概念；在中學科技社團，觀察樹葉、昆蟲翅膀的微觀形貌，激發(fā)興趣；在入門級科研中，用于新材料初步測試，如檢測新型涂層的厚度均勻性。

使用說明

放置在水平無振動實驗臺，避免強光照射。連接電源與電腦，安裝教學版軟件并完成連接。學生清潔樣品后放在樣品臺，通過旋鈕移動樣品臺，參考刻度對準測量區(qū)域。選擇 “快速測量" 模式，設置掃描范圍，點擊 “開始"。教師可結合實時成像講解白光干涉原理，測量后學生導出數據撰寫報告。實驗后學生關閉電源，用干布擦拭樣品臺，鏡頭有灰塵用專用紙輕擦。教師每學期檢查設備光學部件，每學年更換老化光源。

BEUKER三維光學輪廓儀教學科研入門級工具

上一個：ContourX-200BEUKER三維光學輪廓儀輕工業(yè)生產質檢幫手