澤攸透射電鏡原位MEMS低溫電學(xué)測量系統(tǒng)

產(chǎn)品簡介

澤攸透射電鏡原位MEMS低溫電學(xué)測量系統(tǒng)，是在標(biāo)配MEMS芯片樣品桿上集成低溫控制模塊，實(shí)現(xiàn)低溫電學(xué)測量或全溫區(qū)測量功能。

產(chǎn)品型號：

更新時間：2025-03-25

廠商性質(zhì)：代理商

訪問量：406

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

臺式電鏡&臺階儀&原位分析

澤攸臺式掃描電鏡澤攸臺階儀澤攸探針臺及低溫系統(tǒng) 澤攸TEM原位方案(樣品桿) 澤攸SEM原位解決方案

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PicoFemto透射電鏡原位MEMS低溫電學(xué)測量系統(tǒng)

性能指標(biāo)：

1.透射電子顯微鏡指標(biāo)：

（1）兼容指*型號電鏡及極靴；

（2）單傾可選高傾角版本；

（3）可選雙傾版本，β角傾轉(zhuǎn)±25°（同時受限于極靴）；

（4）測量電極數(shù)可選。

2.電學(xué)測量指標(biāo)：

（1）包含一個電流電壓測試單元；

（2）電壓輸出最大±200 V，最小±100 nV；

（3）電流測量最大±1.5 A，最小100 fA；

（4）恒壓或者恒流模式；

（5）自動電流-電壓（I-V）測量、電流-時間（I-t）測量，自動保存。

3.低溫指標(biāo)：

（1）兼容MEMS加熱及電學(xué)芯片；

（2）全溫區(qū)測量，溫度范圍：85 K- 380 K；

（3）控溫穩(wěn)定性：優(yōu)于±0.1 K；

（4）溫度連續(xù)可控。

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